さきがけ研究者

研究概要

半導体デバイスやエネルギーデバイスへの応用が期待される、膜厚が１～数原子層程度の原子層物質では、基板との相互作用や欠陥などの環境要因が物性に顕著に現れます。本提案では、最先端の放射光分析技術とデータ科学による大規模スペクトルデータ解析技術を融合させて多次元X線イメージングを実現し、実デバイスの直接観測を通して、原子層物質の機能発現予測に不可欠な環境要因との相互作用データベースの構築を目指します。