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東北大学電気通信研究所准教授
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固体微細材料中の局所電子状態は、将来の新デバイス、エレクトロニクスにおいて重要な役割を果たします。本研究ではこの局所電子状態に直接アクセスできる独自のミクロプローブによる分析手法を、電子状態のシミュレーション等の理論、ミクロプローブによる測定データとモデルシュミレーションとを結びつけるデータ科学と融合させ、機能性固体微細材料のミクロレベルからの電子物性解析基盤技術の構築を行います。