概要

量子誤り耐性型汎用量子コンピュータ（FTQC）の実現には、量子コンピュータの「質」と「量」の両観点での向上が必要です。現在の量子コンピュータ開発は「質」を優先して量子ビットの数を増やしていくボトムアップ的なアプローチが主流であるのに対して、本プロジェクトでは、これとは逆のトップダウン方式を取ります。すなわち、シリコン半導体技術の優れた集積性（均一な特性の素子を多数実装可能）を活かすために、始めから「量」を重視したシステム設計を主軸に推進します。次に、このシリコン高集積性によって可能になる様々な技術（２次元量子ビットアレイ、極低温CMOS回路・実装システム、ホットシリコン量子ビットなど）を開発することでシステム全体として「質」を向上させ、誤り耐性型汎用量子コンピュータの実現をめざします。