デュアル光コムによる超高速蛍光寿命顕微鏡
〜走査不要で、蛍光寿命イメージをミリ秒で取得〜
安井 武史（徳島大学）
山本 裕紹（宇都宮大学）
本技術のポイント
- ● 超高速
- 数十万画素を1msで取得（>1000fps）
- ● スキャンレス
- 機械スキャンなし
- ● 同時取得
- 蛍光寿命+蛍光強度
発明の概要
- ① 繰り返し周波数がわずかに異なる二つの光コムを重ね、デュアル光コムビートを生成
- ② 波長分散により、各周波数成分を異なる方向へ空間分離
- ③ 光周波数ごとに異なる２次元励起スポット群として試料に照射
- ④ 各スポットから異なる変調周波数の蛍光が発生
- ⑤ 蛍光を検出し、電気信号へ変換
- ⑥ 周波数と空間の対応関係から画像を再構成
従来技術に対する優位性
- スキャン不要
- 機械駆動がなく、高安定・低誤差
- ⇒長時間安定・小型化・低メンテ
- 同時取得
- 全画素同時に取得し、動的変化を正確に再現
- ⇒高速現象を歪みなく観測
- 高識別性
- 寿命情報により背景光（自家蛍光ほか）を分離
- ⇒高コントラスト・高精度計測
- 高スループット
- 高速撮像により大量サンプル処理が可能
- ⇒創薬・臨床検査の効率化
想定される用途
| 組み込み装置 | ユースケース |
|---|---|
| バイオイメージング機器 （大学・研究機関） |
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| 臨床検査機器 （病院・検査センター） |
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| 創薬評価装置 （製薬企業・研究所） |
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| 材料解析装置 （分析センター・工場） |
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ライセンス可能な特許
発明の名称：計測装置及び照射装置
国際公開番号：WO2019/031584（移行国：日本、米国、欧州、中国）
登録番号：特許第7079509号(224KB)、米国10837906(586KB)
