ＪＳＴが実施している「先端計測分析技術・機器開発事業」は、事業開始から3年あまりが経過し、世界最先端の計測分析機器のプロトタイプが出来上がりつつあります。そこで、平成19年8月29日から8月31日に幕張メッセで開催された「2007分析展」においてブースを出展し、本事業で現在開発している中から6機のプロトタイプを実際に展示し、デモンストレーションを行いました。
「2007分析展」会場には、3日間で20,000人を超える来場者があり、本ブースにも大学・企業等多数の方が足を運ばれ、実際に開発に従事している研究者から展示機器に関する説明、デモンストレーションを受けていました。