研究課題 　 クーロンブロッケードによる階段状変位電流の測定とその応用 研究者 　 真島　豊 所　属 　 東京工業大学大学院　理工学研究科 研究報告 　 Movie 　 Document	Since April 1,2001

振動する走査型プローブ／真空／微小ドット／絶縁体／平面電極構造に直流電圧を外部から加えると、クーロンブロッケード（クーロン閉塞）により微小ドットに電荷が入り、外部回路には周期的な変位電流が流れ、変位電流の平均値を測定することができます。 本研究は、クーロンブロッケードに起因して半径数十nmの領域に存在する微小ドット上に量子化した電荷を階段状の平均変位電流として観察することを目指します。 上記変位電流の測定により、クーロンブロッケード条件を満たす微小ドットの電気的評価手法の確立を目指すとともに、単一電子素子と分子エレクトロニクスの両研究分野への応用を試みます。