2012年11月14日(水)〜11月16日(金)に横浜市で開催された「Embedded Technology 2012」において、
本研究領域の「耐タンパディペンダブルＶＬＳＩシステムの開発・評価」（立命館大、産総研、三菱電機、
名城大）の研究成果として、以下の３つの技術展示を行いました。

・電力を利用したサイド チャネル攻撃に耐性のあるAES暗号LSIと設計環境
・電 力および電磁波を利用したサイドチャネル攻撃の安全性評価環境
・模倣電子部品防止の対策 となるPUF(物理複製不可能関数)チップの試作と評価