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図1

図1.実験装置

 上右挿入図に示したのは、一般的な光干渉計(マッハツェンダー型干渉計注5)です。この光干渉計では、aから入力された光ビームは、半透鏡 BS1 で2つの経路 c, d へと分割され、再度半透鏡 BS2で合わせられます。その際、その2つの光は干渉し、その経路の長さの差に応じて、出力 e と出力 f の光強度は変化します。今回の実験では、図中央に示した特殊な工夫をした干渉計を用いました。その基本的な機能は挿入図と同じですが、2つの経路 c,d が同じ光学部品を通るため、光学部品の位置が熱や振動により少々揺らいでも、経路 c,d は同じだけの変化を受けるため、経路の差は変化しません。そのため、安定な干渉が可能となりました。