Japan Science and Technology Agency Fair JSTフェア2018-科学技術による未来の産業創造展-

入場無料 2018.8.30[THU]10:00~17:30 - 8.31[FRI]10:00~17:00 東京ビッグサイト西3ホール

ベイズ計測の数理基盤の構築

東京大学 大学院新領域創成科学研究科 複雑理工学専攻 教授 岡田 真人

9 産業と技術革新の基盤をつくろう

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小間番号 展示 75

出展概要

計測科学にベイズ推論を導入するベイズ計測の枠組みを提案します。ベイズ計測を用いると、計測限界の定量的な評価や、異なる計測手法によるデータの統合などを行うことができます。これにより、S/N比が低くノイズに埋もれたシグナルの顕在化・高精度解析、直接計測が困難な物理量の抽出、汎用ラボ用の測定機器を用いた高度な計測、大型研究施設のマシンタイムの効率化、世界最高水準の先端計測技術のインパクトの最大化などに必要な、情報数理基盤を構築します。

JST支援プログラム名称・期間

CREST「計測技術と高度情報処理の融合によるインテリジェント計測・解析手法の開発と応用」「データ駆動科学による情報計測への支援」(平成29年度~平成35年度)

共同研究者情報

  • 東京大学地震研究所 准教授 長尾 大道
  • 統計数理研究所モデリング研究系 准教授 日野 英逸

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