論文

• 吉田弘幸,
  "Crystallographic structure and band calculation of pentacene polymorphs",
  J. Vac. Soc. Jpn. 56, 24-31 (2013).
• Hiroyuki Yoshida, Eisuke Ito, Masahiko Hara, Naoki Sato,
  "Electronic structure of the buried interface between an organic semiconductor, N,N’-Bis(3-methylphenyl)-N,N’-diphenylbenzidine (TPD), and metal surfaces",
  J. Nanosci. Nanotech. 12, 494-498 (2012).
• Yoshida Hiroyuki, Naoki Sato,
  "A Precise Analysis of the Core Level Energy Difference between the Surface and Bulk Region of Organic Semiconductor Thin Films",
  J. Phys. Chem. C, 116, 10033-10038 (2012).
• 吉田弘幸、大津彰良、
  「電子エネルギー分析器コムストックAC-900シリーズ」、
  Molecular Science, 6, NP0019 (2012).
• Hiroyuki Yoshida,
  "Near Ultraviolet Inverse Photoemission Spectroscopy Using Ultra-Low Energy Electrons",
  Chem. Phys. Lett. 539-540, 180-185 (2012).
• H. Yoshida, E. Ito, M. Hara M. Hara, N. Sato,
  "The depth profile of core energy levels: Electronic structure of buried organic/metal interfaces examined by X-ray photoemission and target factor analysis X-ray photoemission spectroscopy with depth resolution:　Application to the electronic structures of buried semiconductor interfaces",
  Chem. Phys. Lett., 511, 146-150, 2011.
• H. Yoshida, E. Ito, M. Hara, N. Sato,
  "Core level energy differences between the surface and bulk of organic semiconductor films: The effect of electrostatic polarization energy",
  Synth. Met. (2011) doi:10.1016/j.synthmet.2011.09.015, 2011.

口頭発表・ポスター発表

• 吉田弘幸、
  "Inverse photoemission spectroscopy in the near-ultraviolet range: A new tool to examine the unoccupied states of organic materials",
  Electronic Structure and Processes at Molecular based Interfaces- the 7th Edition, 2013/5/2.
• 吉田弘幸、
  「近紫外逆光電子分光法によるフラーレン誘導体のLUMO準位測定」、
  第60回応用物理学会春季学術講演会、2013/3/29
• 吉田弘幸、
  「有機半導体のLUMO準位と 電子親和力の測定・評価技術」、
  第5回有機薄膜太陽電池サテライトミーティング、2013/3/26
• 吉田弘幸、
  「有機固体の空準位の精密測定法：近紫外逆光電子分光法の開発」、
  日本化学会第93春季年会、2013/3/25
• 吉田弘幸,
  "New experimental method to precisely examine the LUMO levels of organic semiconductors and application to the fullerene derivatives",
  Seventh International Conference on Molecular Electronics and Bioelectronics (M&BE7) , 2013/3/18.
• 吉田弘幸、
  「有機半導体のLUMO準位と 電子親和力の測定・評価技術」、
  情報機構セミナー、2013/3/14
• 吉田弘幸、
  「有機半導体の空準位と 電子親和力の精密測定法の開発」、
  第1回有機太陽電池ワークショップ、2012/4/20
• 吉田弘幸、
  「有機半導体のエネルギー準位」、
  第７回有機デバイス院生研究会、2012/6/29
• 吉田弘幸、
  「有機半導体の空準位と電子親和力の新しい精密測定法の実現」、
  CREST有機太陽電池シンポジウム、2012/7/13
• 吉田弘幸、
  「有機半導体の空準位と電子親和力の精密測定法の開発」、
  統合物質創製化学事業 第３回若手研究会、2012/7/23
• 吉田弘幸、
  「分光器をつかった近紫外逆光電子分光法」、
  第73回応用物理学会学術講演会、2012/9/11
• 吉田弘幸、
  「有機半導体空準位の新しい測定法：近紫外逆光電子分光法の開発」、
  第73回応用物理学会学術講演会、2012/9/14
• 吉田弘幸、 「角度分解Ｘ線光電子分光法と多変量解析による有機固体の内殻準位の深さ依存測定」、
  UVSOR研究会、UVSOR有機固体専用ラインの今後の展開、2012/9/25
• 吉田弘幸、
  「有機半導体の空準位と電子親和力の新しい測定法：近紫外逆光分開発」、
  横浜市立大学教室セミナー、2012/10/23
• 吉田弘幸、
  「有機固体の空準位の精密測定法： 近紫外逆光電子分光法の開発」、
  第21回有機結晶シンポジウム、2012/11/9
• 吉田弘幸、
  「新測定法による有機半導体の価電子準位と空準位」、
  応用物理学会　有機分子・バイオエレクトロニクス分科会講習会、有機半導体分析技術の基礎、2012/11/12
• 吉田弘幸、
  「有機固体のLUMO準位の精密測定法： 近紫外逆光電子分光法の開発」、
  有機ＥＬ討論会　第15回例会、2012/11/21
• H. Yoshida,
  "New experimental method to precisely examine the LUMO levels of organic semiconductors and application to the fullerene derivatives",
  2012 MRS Fall Meeting, 2012/11/27.
• 吉田弘幸,伊藤英輔,原　正彦,佐藤直樹,Thomas Ules, Michael G. Ramsey,
  "Core-energy level difference in the surface and bulk regions of organic semiconductor",
  the DPG conference (Berlin, Germany), 2012/3/26.
• 吉田弘幸、佐藤直樹、
  「超低速電子線による 可視域逆光電子分光法の開発」、
  第59回応用物理学関係連合講演会、2012/3/16
• 吉田弘幸、伊藤英輔、原　正彦、佐藤直樹、Whee WonChin、 Jin WookHan、
  「極性分子の自発配向と有機薄膜の表面とバルクのエネルギー準位差」、
  第59回応用物理学関係連合講演会、2012/3/16
• 吉田弘幸、伊藤英輔、原　正彦、佐藤直樹、
  「有機固体中の表面とバルクの分子に対する内殻準位のエネルギー差」、
  日本化学会第91春季年会、 2011/3/29.
• 吉田弘幸,伊藤英輔,原　正彦,佐藤直樹
  「有機固体中の表面とバルクの 内殻準位のエネルギー差の起源」 、
  第58回応用物理学関係連合講演会、 2011/3/27
• 吉田弘幸、伊藤英輔、原　正彦、佐藤直樹、
  「有機薄膜の表面とバルクの 内殻準位のエネルギー差の起源」、
  第72回応用物理学会学術講演会、 2011/9/1.
• 吉田弘幸、伊藤英輔、永野修作、原 正彦、佐藤 直樹、Whee Won Chin、Jin Wook Han, Michael G. Ramsey、
  「 X線光電子分光法で調べる有機半導体薄膜の内部の電子構造」、
  第60回高分子討論会、 2011/9/28−30.
• 吉田弘幸、伊藤英輔、原　正彦、佐藤直樹、
  「有機薄膜の 表面とバルクの間で認められる 内殻準位エネルギー差の起源」、
  第5回分子科学討論会、 2011/9/20−23.
• 吉田弘幸、伊藤英輔、原　正彦、佐藤直樹、Chin WheeWon、Han Jin Wook、
  「有機薄膜の表面とバルク間の内殻準位エネルギー差の起源」、
  第20回有機結晶シンポジウム、 2011/10/20-21.
• H. Yoshida, E. Ito, M. Hara, N. Sato,
  "Core-energy level difference in the surface and bulk regions of organic semiconductor films studied by X-ray photoemission spectroscopy with depth resolution",
  6th International Conference on Molecular Electronics and Bio-electronics (M&BE6), 2011/3/16-18.
• H. Yoshida, E. Ito, M. Hara, N. Sato,
  "Core-energy level difference in the surface and bulk regions of organic semiconductor films studied by X-ray photoemission spectroscopy with depth resolution",
  2011 E-MRS Sping Meeting, 2011/5/9-13.
• H. Yoshida, E. Ito, M. Hara, N. Sato,
  "Core-energy level difference in the surface and bulk regions of organic semiconductor films studied by X-ray photoemission spectroscopy with depth resolution",
  2011 E-MRS Sping Meeting, 2011/5/9-13.
• H. Yoshida, E. Ito, M. Hara, N. Sato,
  "A New Experimental Method for Depth Profiling Core Energy Levels: Application to the Electronic Structure of Buried Organic/Metal Interfaces",
  International Conference on Materials for Advanced Technology (ICMAT2011), 2011/6/26-7/1.
• H. Yoshida,
  "Core-energy level difference in the surface and bulk regions of organic semiconductor films studied by X-ray photoemission spectroscopy with depth resolution",
  ASOMEA6, 2011/11/24.
• H. Yoshida, E. Ito, M. Hara, N. Sato,
  "Depth profiling the energy levels near the surface of organic semiconductor films studied by depth resolved X-ray photoemission spectroscopy",
  21st international photovoltaic sicence an engineering conference (PVSEC-21), 2011/11/28.

出版物

その他

• 吉田弘幸、
  「有機薄膜のX線回折」、
  薄膜の評価技術ハンドブック』　第４章第６節第２項、2013/1/29

プレス発表

• 2012年5月11日： JST・京都大学 "有機半導体を格付けできる新・伝導準位測定法と装置を発明"
  http://www.jst.go.jp/pr/announce/20120511-2/index.html

受賞