【小川 絋樹】X線小角散乱-CT法と計算科学の融合による可視化手法の開発

さきがけ研究者

小川 絋樹
小川 絋樹

京都大学
化学研究所
助教

研究概要

ソフトマテリアルにおけるナノスケールの構造解析手法として、X線小角散乱法(SAXS法)-コンピュータートモグラフィー(CT法)による可視化手法の開発が進められていますが、現状での用途は非常に限定されています。そこで本研究では、X線小角散乱-コンピュータートモグラフィー法と計算科学を融合することにより、あらゆるソフトマテリアルにおけるナノスケールの構造情報を可視化する手法の開発を目指します。

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