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| 1) |
S. Mizuno, J. Fukuda |
| Possibility of nanometer-scale low-energy electron diffraction |
| 7the International Conference on the Structure of Surfaces MO6 |
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| 2) |
水野清義 |
| ナノ新材料開発のための低速電子回折を用いた原子位置決定 |
| 化学工業53（2002）836、化学工業社 |
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| 3) |
福田淳、水野清義、栃原浩 |
| 電界放出による表面微小領域への電子線照射と散乱パターンの検出 |
| 第108回日本物理学会九州支部例会, Bp-13 |
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| 4) |
Seigi Mizuno, Jun Fukuda, Hiroshi Tochihara |
| Extraction of scattered low-energy electrons in field emission conditions |
| Surface Science 514 (2002) 291 |
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| 5) |
水野清義、福田淳、栃原浩 |
| 走査トンネル顕微鏡探針を用いた低速電子回折装置の開発II |
| 日本物理学会第58回年次大会、予稿集p.852 |
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| 6) |
水野清義 |
| Nanometer-Scale Surface Structure Determination: Developments in Low-Energy Electron Diffraction |
| The First International Congress on Bio-nanointerface, Abstracts p.132 |
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| 7) |
S. Mizuno, Y. O. Mizuno, H. Tochihara |
| Structure determination of indium induced Si(111) reconstructed surfaces by LEED analysis: (root3xroot3)R30 and (4x1) |
| Physical Review B 67 (2003) 195410. |
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| 8) |
水野清義、白澤徹郎、白石雄一郎、栃原浩 |
| Si(001)表面の低温LEEDによる観察 |
| 日本物理学会2003年秋季大会（シンポジウム）予稿集p. 823 |
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| 9) |
Masayuki Iwanaga, Seigi Mizuno and Hiroshi Tochihara |
| Fabrication and Evaluation of Tips for Probing Surface Small Areas by Low-Energy Electrons |
| 5th Cross Straits Symposium on Materials, Energy and Environmental Sciences, Abstract p.103 |
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| 10) |
S. Mizuno, M. Iwanaga, H. Tochihara |
| Development of LEED using STM tips as a field emission gun |
| The 7th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures, Abstracts p. 301 |
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| 11) |
白澤徹郎、水野清義、栃原浩 |
| 低速電子線照射によるSi(001)-c(4×2)表面構造の変化 |
| 日本物理学会 第59回年次大会 p.915 |
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