出展概要

暗視野Ｘ線タイコグラフィは、試料および円柱構造体にコヒーレントX線を照射した際に観測されるコヒーレントX線回折強度パターンに位相回復計算を実行し、高分解能・高感度で試料像を取得するイメージング技術である。従来のX線タイコグラフィ技術と比べて、目的の空間分解能・感度を達成するために必要な回折強度のダイナミックレンジが大幅に圧縮されるため、空間分解能・感度を飛躍的に向上させることが可能であり、ナノ材料や細胞の観察への応用が期待される。