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先端計測分析技術・機器開発事業、「全日本科学機器展」に装置出展
− 2008年11月26日(水)〜 28日(金) 東京ビッグサイト −

11月26日(水)〜28日(金)、「全日本科学機器展 in東京 2008」にてJST先端計測分析技術・機器開発事業の成果の一部である最新の計測機器をブース展示し、分析機器ユーザーなどの来場者に熱心に見学いただきました。

「先端計測分析技術・機器開発事業」は、最先端の研究やものづくり現場で利用される計測・分析機器等の開発を支援しています。今回、同事業の成果の一端を「全日本科学機器展 in東京 2008」にて紹介しました。「全日本科学機器展 in東京 2008」(運営協会:東京科学機器協会、会場:東京ビッグサイト)は、研究開発に用いる機器などを一堂に集めた日本最大規模の展示会です。「先端計測分析技術・機器開発事業」としては初めての出展であり、X線の新しい検出方式を利用して軽元素を高感度で分析する装置や、大気中の揮発性有機化合物等の高感度検出が可能な可搬型の光イオン化質量分析装置など、ものづくり現場や環境分野、また基礎研究に貢献する機器の展示を行いました。展示ブースには多数の来場者が立ち寄られ、本事業の独創的な成果の一端を広く紹介することができました。今後研究・開発者と企業・ユーザーのマッチングがなされることにより、将来的な事業化・製品化へと繋がることが期待されます。

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