１.「日独研究交流」の趣旨・目的
本研究交流は、政府間合意に基づき、日独両国間において、募集分野における研究交流を実施することにより、我が国の科学技術の将来の発展に資することを目的としています。
２. 募集分野
「ナノエレクトロニクス」に属する以下の分野を主な対象としています。
・半導体ナノエレクトロニクス
・スピントロニクスのための材料およびナノ構造
・走査型プローブを用いた研究アプローチおよび原子スケールでの輸送現象
・エレクトロニクスおよびフォトニクスのための分子的アプローチ
・金属および半導体スピントロニクス
・MEMS/NEMS
・ナノフォトニクスおよび関連する技術
３．応募資格
日本国内の大学、研究機関、企業などで研究に従事している研究者で、日本とドイツにおいて既に進行中の研究が強化され、さらに付加的な価値が創出される共同研究である研究課題を対象とします。
日本側研究者はＪＳＴへ、ドイツ側研究者はＤＦＧ（ドイツ研究協会※）宛に共同プロジェクトとして応募いただきます。
日本国内の企業に在籍する研究者からの応募は日本側では応募可能ですが、ドイツ側への応募は受付できません。
※ＤＦＧ（ドイツ研究協会）：
1920年に設立した本部をボン市におく、非営利・非政府組織。自然科学と人文科学全分野に係わる研究プロジェクトに資金を提供し、研究者間の協力を促進している。ホームページURL：http://www.dfg.de
４．実施期間（研究期間）
原則３年
５．支援規模
1課題あたり、総額1,500万円程度を上限とします。（ただし、間接経費を含む）
６．支援の内容
支援費は、研究交流費と試験研究費で構成されます。
・研究交流費には、旅費、シンポジウム・セミナー開催費が、試験研究費には消耗品費、設備備品費などが含まれます。
・間接経費は、原則として研究交流費と試験研究費の合計の１０％以下を支出することができます。
７．選考の方法
ＪＳＴとＤＦＧで別々に選任された専門家で構成される委員会にて全ての提案書が評価された後、この評価結果を基にＪＳＴとＤＦＧは協力して支援する課題を選定しました。
８．審査にあたっての評価基準
以下の基準を適用しました。
制度の主旨及び対象分野への適合性
研究代表者の適格性
計画の妥当性
研究交流の有効性
現在の研究活動