図1
図1. 環状暗視野走査透過電子顕微鏡法 (ADF-STEM)における原子像形成。
非常に細く絞った電子ビームを試料上2次元的に走査し、
試料中の原子によりある角度方向に散乱されてでてきた電子強度を環状検出器にて測定する。

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