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9、ナノ新材料開発のための表面微小構造解析法による原子位置決定
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水野 清義
著者・発表者 S. Mizuno, J. Fukuda
表題 Possibility of nanometer-scale low-energy electron diffraction
発表先 7the International Conference on the Structure of Surfaces MO6
   
著者・発表者 水野清義
表題 ナノ新材料開発のための低速電子回折を用いた原子位置決定
発表先 化学工業53(2002)836、化学工業社
   
著者・発表者 福田淳、水野清義、栃原浩
表題 電界放出による表面微小領域への電子線照射と散乱パターンの検出
発表先 第108回日本物理学会九州支部例会, Bp-13
   
著者・発表者 Seigi Mizuno, Jun Fukuda, Hiroshi Tochihara
表題 Extraction of scattered low-energy electrons in field emission conditions
発表先 Surface Science 514 (2002) 291
   
著者・発表者 水野清義、福田淳、栃原浩
表題 走査トンネル顕微鏡探針を用いた低速電子回折装置の開発II
発表先 日本物理学会第58回年次大会、予稿集p.852
   
著者・発表者 水野清義
表題 Nanometer-Scale Surface Structure Determination: Developments in Low-Energy Electron Diffraction
発表先 The First International Congress on Bio-nanointerface, Abstracts p.132
   
著者・発表者 S. Mizuno, Y. O. Mizuno, H. Tochihara
表題 Structure determination of indium induced Si(111) reconstructed surfaces by LEED analysis: (root3xroot3)R30 and (4x1)
発表先 Physical Review B 67 (2003) 195410.
   
著者・発表者 水野清義、白澤徹郎、白石雄一郎、栃原浩
表題 Si(001)表面の低温LEEDによる観察
発表先 日本物理学会2003年秋季大会(シンポジウム)予稿集p. 823
   
著者・発表者 Masayuki Iwanaga, Seigi Mizuno and Hiroshi Tochihara
表題 Fabrication and Evaluation of Tips for Probing Surface Small Areas by Low-Energy Electrons
発表先 5th Cross Straits Symposium on Materials, Energy and Environmental Sciences, Abstract p.103
   
著者・発表者 S. Mizuno, M. Iwanaga, H. Tochihara
表題 Development of LEED using STM tips as a field emission gun
発表先 The 7th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures, Abstracts p. 301
   
著者・発表者 白澤徹郎、水野清義、栃原浩
表題 低速電子線照射によるSi(001)-c(4×2)表面構造の変化
発表先 日本物理学会 第59回年次大会 p.915
   
※「1期生」 = 平成13年度採用研究者 2001年〜2004年
※「2期生」 = 平成14年度採用研究者 2002年〜2005年
※「3期生」 = 平成15年度採用研究者 2003年〜2004年
 
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