高橋 隆
東北大学 原子分子材料科学高等研究機構 教授
http://arpes.phys.tohoku.ac.jp/

　光電子分光法は外部光電効果を利用して物質の電子状態を直接測定できる強力な実験手段ですが、表面敏感性や電子スピン測定の困難といった問題を持っています。開発する「バルク敏感スピン分解超高分解能光電子分光装置」は、物質固有のバルク電子状態を高分解能でスピンまで分解して測定できるもので、高温超伝導体やカーボンナノチューブをはじめとする新機能物質の物性理解に大きく貢献することが期待されます。