領域紹介

研究者・研究課題

さきがけCREST
  • 2010年度
  • 2011年度
  • 2012年度

  • 有田 誠
  • 井垣 達吏
  • 大谷 直子
  • 大洞 將嗣
  • 西城 忍
  • 澤 智裕
  • 杉浦 悠毅
  • 武田 弘資
  • 武田 憲彦
  • 廣田 泰
  • 茂呂 和世
  • 山下 政克
  • 渡会 浩志

細胞老化シグナルからみた慢性炎症と癌進展の新しい発症メカニズムの解明

大谷 直子
東京理科大学 理工学部 応用生物科学科 教授
http://www.rs.tus.ac.jp/ohtani-lab/
研究概要
細胞老化シグナルからみた慢性炎症と癌進展の新しい発症メカニズムの解明

正常細胞にDNAダメージなどの発癌ストレスが加わると、不可逆的増殖停止である細胞老化が誘導されます。細胞老化をおこした細胞はすぐには死滅せず生体内に長期間生存し、大量の炎症性サイトカインを分泌し続けるため、慢性的な炎症を引き起こす可能性が示唆されています。本研究では非免疫細胞の細胞老化という新しい視点から、慢性炎症の分子機構を解析し、慢性炎症と発癌や個体老化との関係解明を目指します。

対外発表
The 5 Cardinal Signs of Inflammation